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美国材料测试协会预测膜污染趋势新标准及方法与仪器
孙本惠教授编译 / 时间:2016-06-06 06:45:54

  2015年11月,美国材料测试协会(American Society of Testing Materials,简称:ASTM)批准了以改进的膜污染指数(MFI-0.45)为基准的全新测试方法标准ASTM D8002-15。新标准对实现膜污染趋势的准确测量和预测具有积极影响。Akvoregia企业最近推出了便携式MFI-0.45预测仪,可以方便快捷地实现对MFI-0.45值的测定。
  为什么要建立一个新的标准?
  在此之前,ASTM一直沿用污泥密度指数SDI(sludge densidy index,即RO装置进料水的SDI值)作为预测膜污染趋势的测试标准(D4189-95)。虽然该标准已被广泛使用多年,但其结果的准确性却屡遭质疑。胶体和颗粒是造成膜堵塞的主要原因,但是,胶体物质和颗粒之间并非线性关系,这使得SDI的测定受到很大影响。改进的膜污染指数MFI-0.45解决了这个问题。该经验指数参照了膜表面滤饼和凝胶层的形成机理,除考虑到胶体及悬浮物对污染的影响外,也包含了小于0.45微米的颗粒对膜污染的贡献。因此,MFI-0.45的测试结果可以更精准地预测RO系统的膜污染倾向。
  MFI-0.45预测仪是帮助反渗透系统的工程师和操作人员实现及时准确检测其预处理工艺的必备工具,此外也可用于在澄清等工序中确定颗粒的去除率,以及在地热能应用中预测堵塞地下水井和渗透源的风险性。
  为什么要测量膜污染的趋势?
  在过滤过程中,膜面上形成的滤饼和凝胶层会干扰流体的流动分布,从而降低膜的性能,使其渗透性及产率下降。这将直接导致:
  - 过滤过程中能耗增加
  - 清洗频率增加
  - 生产时间减少
  - 频繁的清洗造成的膜寿命降低
  经常测量膜污染的趋势,就可以依据可靠的数据采集来有效地监控膜工艺性能的变化,使工程师和操作人员能够尽早采取预防措施,以最小的代价优化工艺性能。
  如何测量MFI-0.45?


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  便携式MFI-0.45预测仪的结构简单,用电池供电,可以对任何地方、任何浊度水样的MFI-0.45值进行测量。同时该预测仪也可用于测量SDI值,这就使得技术人员对新标准的熟悉和掌握变得更为容易 。该仪器操作简便,测定结果可存储在U盘中,有助于用户自行建立可靠的数据库。使用该仪器最多可将测试费用减少50%。
  如需了解ASTM MFI-0.45标准的详情以及便携式测量仪的报价等更多信息,可以发送电子邮件至MFI045@akvoregia.eu或访问网站www.akvoregia.eu

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